I’st ITS
Information Tracing System
반도체 PCB제조 공정 중 기판의 LOT각인 및 인식을 통해 자동으로 재공을 관리하고 검사공정에서 발생하는 2차불량을 방지 하기 위해 scratch-free로 불량 Cell정보를 공유하여 검사공정의 수율을 향상 하는 솔루션 입니다.
01. 불량Cell Data의 전산화
불량Cell에 Scratch-free 실현으로 2차 불량을 방지, 품질 효울을 향상시키고 Bad Cell정보 공유에 따른 data Skip으로 검사공정 수율 향상 시킵니다.
02. ODB++ Gerber Data 적용
판넬 별 규격관리 및 ODB++ Gerber Data 해석 및 매칭으로 PCB기판 Cell Location에 대한 정확도 100%를 구현 하였습니다.
03. PCS단위의 불량 정보 추적
1LOT 단위 Panel관리에서 Panel, Strip, PCS단위의 불량정보, 위치 추적으로 관리 단위 최소화하여 문제 발생 시 품질관리 비용의 최소화로 원가를 절감합니다.
04. 고객 신뢰도 향상
불량 Cell정보에 대한 고객Data전송 및 불량 집중 Point의 관리로 고객에 대한 신뢰도를 향상시킵니다.